Тестер IDE шлейфов.

 

Тестер IDE шлейфов очень удобно иметь под рукой при частом ремонте и модернизации старых компьютеров. С этим я столкнулся при установке в свой компьютер Mobile Rack. Когда из за неисправного IDE шлейфа потратил пол дня в пустую, ошибочно настраивая систему и тестируя блок питания. Жесткий диск определялся системой через раз из за единственного оборванного проводника в IDE шлейфе. Дефект проявлялся лишь при выгибании шлейфа, в одном положении. Тогда я просто заменил шлейф, но неприятный осадок неопределенности остался. Неплохо было бы иметь способ быстрой проверки таких шлейфов – подумал я. Ведь прозванивать мультиметром каждую жилу в каждом разъеме – не вариант. И решил я тогда изготовить простой  тестер проводников IDE шлейфа.

 

Типы IDE шлейфов.

Вообще же можно IDE шлейфа называть так же ATA шлейфами или PATA шлейфами. Это, по сути, разные маркетинговые аббревиатуры одной и той же технологии передачи данных между жесткими дисками и хост контроллером компьютера. Если же говорить о шлейфах простым языком, можно сказать, что IDE шлейфа бывают двух типов: Старый сорока жильный шлейф, и Новый — восьмидесяти жильный. Оба типа до сих пор встречаются в старых компьютерах. При возможности выбора, предпочтение нужно отдавать естественно Новому типу шлейфа IDE. Но если компьютер совсем уж старый (конца прошлого века), то возможно даже что Новый тип шлейфа не сможет на нем работать.

 

Старый тип шлейфа IDE.

Старый тип шлейфа IDE – это 40-ка проводной шлейф, имеющий два или три 40-ка контактных разъемы одного цвета (чаше черного). Иногда такие разъемы не имеют «ключа» (выступа, препятствующего неправильному подключению разъема в колодку).  Разъемы предназначены соответственно для подключения к материнской плате и к двум устройствам — Master и Slave (ведущий и ведомый). Причем, разъем для подключения устройства Slave располагается на самом краю шлейфа. Это было обусловлено тем, что устройство  Slave не должно иметь соединения с контактом 28 шлейфа при режиме Cable Select (выбор, определяемый кабелем). Этот проводник просто перерезался на шлейфе. Естественно перерезать проводник нужно после устройства Master. По этому, устройство Slave должно находится на конце данного шлейфа.

То есть, конфигурация устройств на таком шлейфе старого типа должна выглядеть следующим образом:

|MB|———-|M|—|S|

Где:

|MB|     –   motherboard (материнская плата)

|M|       –   устройство Master

|S|          –   устройство Slave

 

Новый тип шлейфа IDE.

Новый тип шлейфа IDE появился примерно в 1999 году, с введением нового режима Ultra DMA/66 (UDMA4), позволяющего производить обмен данными на скоростях до 66.7 Мбайт/с. По этому нужен был и новый, более совершенный, скоростной, 80-ми проводной шлейф, но имеющий, как и раньше три 40-ка контактных разъема. По новому стандарту разъемы стали теперь разных цветов (синий, серый, чёрный).  Синий разъем подключается к материнской плате, далее серый – к ведомому устройству (Slave), и черный – к ведущему устройству (Master).  То есть, на новом 80-ти контактном IDE шлейфе Master и Slave теперь поменялись местами.

Конфигурация устройств на таком 80-ти проводном шлейфе нового типа должна выглядеть следующим образом:

|MB|———-|S|—|M|

Где:

|MB|     –   motherboard (материнская плата)

|S|          –   устройство Slave (device 1)

|M|       –   устройство Master (device 0)

Преимущество нового IDE шлейфа перед старым – способность работать на более высоких скоростях передачи данных, благодаря тому, что все 40 сигнальных проводников чередуются с дополнительными 40-ка заземленными. По этому, новый тип шлейфа – скоростной, 80-ти жильный. Соответственно, применены и новые разъемы. Внешне они выглядят как разъемы старого типа, но предназначены для подключения 80-ти проводникового шлейфа, который уже имеет 47 заземленных контактов, соединенных вместе (вместо 7-ми, на старом типе шлейфа).

Так же увеличению скорости передачи данных способствует расположение устройства Master в конце шлейфа. Благодаря этому отсутствует незадействованный «хвост» шлейфа при подключении одного лишь устройства Master. Этот «хвост» шлейфа, присущий старому типу, отражал и искажал сигнал, внося в него ошибки.

Следует сказать, что этот новый стандарт интерфейса под названием ATA-5, с 80-ти жильным шлейфом, теперь именует подключаемые устройства не как Master и Slave, а как device 0 (устройство 0) и device 1 (устройство 1).

 

Что нужно понимать.

Из вышесказанного следует:

  • Двадцать восьмой контакт любого IDE шлейфа не прозванивается на разъеме Slave. Он отключен. Хотя я и встречал IDE шлейфа очень старого типа с не отключенным 28-м проводником на крайнем разъеме Slave.
  • В новом типе IDE шлейфа не удастся прозвонить какой либо заземляющий проводник отдельно. Они все соединены вместе на разъеме. По этому и обрыв какого либо одного земляного проводника в принципе не критичен.
  • В старом же типе шлейфа семь заземляющих проводников не соединены между собой вместе, на разъеме. Они будут звонится каждый в отдельности по своей цепи.

 

Схема тестера IDE шлейфов.

При проектировании и обдумывании схемы этого тестера для IDE шлейфов, я рассматривал несколько вариантов. По началу, я планировал сэкономить, и прозвонить весь IDE шлейф одной цепью. Я хотел подключать к шлейфу гнезда разъема с двух сторон, которые соединили бы все проводники в нем в один, последовательно, змейкой. Но, узнав об отличиях между старым и новым типом шлейфов, я понял, что этот фокус не удастся. В этом случае мне придется делать отдельные испытатели для каждого типа шлейфа. К тому же такой способ не показывал бы конкретное место повреждения ATA-шлейфа (конкретную цепь), а лишь определял бы — исправен шлейф или нет.

Я так же рассматривал варианты с одновременной прозвонкой нескольких цепей, последовательно соединенных змейкой. Но, в конце концов, пришел к тому, что нужно прозванивать каждую цепь отдельно (каждый проводник шлейфа). То есть на каждый проводник нужен отдельный светодиод с резистором. Итого: тридцать девять светодиодов с резисторами (в стандарте IDE проводник 20 шлейфа не задействован). Этот способ прозвонки проводников в шлейфе более нагляден и информативен. Он подходит как для старого типа ATA шлейфа, так и для нового. Правда, в новом типе ATA шлейфа заземленные проводники все равно невозможно прозвонить по отдельности. Но это не беда. Главное чтобы были целыми остальные, сигнальные проводники.

 

Конструкция тестера IDE шлейфов.

Тестер состоит из двух плат, соединенных гибким полуметровым проводником. На первой плате расположен IDE ( ATA ) разъем, светодиоды, резисторы и цепь питания.  Вторая плата имеет лишь IDE разъем, все контакты которого соединены между собой и подключены к гибкому проводу, идущему к первой плате. Испытываемый ATA шлейф, при подключении к двум платам тестера должен замкнуть каждую цепь своего проводника на свой отдельный светодиод.

Тестер содержит 40 светодиодов. 7 светодиодов зеленого цвета – это цепи тестирования заземляющих проводников шлейфа 2, 19,22,24,26, 30,40 (смотри схему шлейфа ATA). Остальные 32 светодиода красного цвета – цепи тестирования сигнальных проводников шлейфа. Один светодиод красного цвета – индикатор питания тестера. В тестере отсутствует цепь для тестирования проводника номер 20 шлейфа ATA. Так как такого контакта на шлейфе не существует по стандарту. Он «заглушен» на клеммной колодке разъема. По этому, при тестировании какого-нибудь нестандартного шлейфа ATA это нужно иметь ввиду. То есть не удастся проверить целостность проводника номер 20 при наличии его на нестандартном шлейфе.

Питать тестер можно непосредственно от блока питания компьютера. Напряжения питания 5 вольт (можно и 12 вольт).

 

Проверка IDE шлейфа.

Подключенный к тестеру шлейф IDE при проверке нужно аккуратно изгибать и поворачивать в разных направлениях. Обрыв проводников может быть неявным и проявляться периодически при изгибе. Так, даже очень кратковременное затухание любого светодиода при испытании уже дает повод не использовать такой шлейф в дальнейшем.

Плату тестера со светодиодами нужно подключить к разъему шлейфа, который подключается к материнской плате (синий разъем шлейфа). Вторую плату тестера нужно поочередно подключать к разъемам шлейфа Master и Slave. Выгибая шлейф производить тестирование.

Как уже упоминалось выше, на разъеме Slave шлейфа (серый разъем) тестер покажет обрыв на 28-м проводнике, так как он отключен на этом разъеме для создания режима Cable Select.

 

 

Я и Диод. © yaidiod.ru.

Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.  Тестер IDE шлейфов.

Оцени эту статью:

0 баллов, 0 оценок0 баллов, 0 оценок (0 баллов, 0 оценок, вы уже поставили оценку)
Для того чтобы оценить запись, вы должны быть зарегистрированным пользователем сайта.
Загрузка...


Добавить комментарий